Fluorescência de Raios-X

A Fluorescência de Raios-X consiste em uma técnica não destrutiva que permite a identificação da composição e concentração de elementos presentes em uma amostra. Esta técnica incide raios-X para excitar os níveis eletrônicos de átomos de uma amostra desconhecida.

Quando uma amostra é irradia por um feixe de raios-x, os átomos na amostra geram raios-X característicos que são emitidos da amostra. Tais raios são conhecidos como raios-X "fluorescentes" e possuem um comprimento de onda e uma energia específicos que são característicos de cada elemento. Consequentemente, a análise qualitativa pode ser feita pela investigação dos comprimentos de onda dos raios-X. Como a intensidade dos raios-X fluorescentes é função da concentração, a análise quantitativa também é possível pela medição da quantidade de raios-X com o comprimento de onda específico de cada elemento.

A figura abaixo, ilustra o processo de fluorescência detalhadamente. Após a incidência de raios-X, em elétrons de um determinado nível eletrônico de um átomo, se os elétrons desse nível, tiverem uma energia de ligação menor que a energia do fóton, ocorre o processo de efeito fotoelétrico, gerando uma vacância na camada eletrônica. Esta vacância é preenchida por um elétron de um nível de maior energia, este processo gera liberação de energia na forma de um fóton de raio-X, denominada fluorescência.

O aparelho de XRF modelo Ray Ny EDX-720 da Shimadzo, da Central Analítica do Curso de Física da UFG-Regional Jataí. As amostras devem ser preparadas de acordo com orientações do fabricante do equipamento, possue 8 porta amostras e podem ser medidas em um vácuo primário, sob pressão de 2,0x10^-2 mBar ou a pressão atm. Utiliza-se nitrogênio líquido para refrigerar o detector de fótons